Fabrikat/model | Trachea/Bronchium-stent Hanarostent Trachea/Bronchium MIT (M.I.Tech)... |
Statisk feltstyrke | 1,5 Tesla og 3,0 Tesla |
Scannerarkitektur | Ingen restrektion |
Spatial gradient | Maksimalt 40 T/m alt. 4000 Gauss/cm |
Slew rate (Gr) | Ikke oplyst... |
SAR | Maksimal WB SAR: 2,0 W/kg Normal Operation Mode |
B1+rms | Ingen restrektioner |
Coil type | Ingen restrektioner |
Kilde | IFU fra producentem |
Arterakter | Billedartefakter må kunne forventes ved scanning i den region som involverer implantatet. Ved scanning på 3T-system med GE-sekvenser vil man kunne se et susceptibilitetsartefakt/distortionsartefakt på op til 5 mm. |
Gyldighed | Denne procedure kan anvendes som inspirationskilde til udvikling af egne sikkerhedsforskrifter |
Information | Procedure 280. Revision: 1.5 Tidligere udgaver af denne sikkerhedsvejledning er ikke gemt Udarbejdet af: Bo Haugaard Jørgensen Dato: 12.08.2021 Opdateres: Løbende, senest 01.01.2023 |